微機電量測系統
儀器名稱
微機電量測系統
儀器名稱英文
MEMS Measurement System
編號
HF-M01
地區
新竹
機台類別
微機電量測
開放等級
B4
聯絡窗口
張先生 03-5773693 #7202
王先生 03-5773693 #7247
王先生 03-5773693 #7247
聯絡信箱
1913004@narlabs.org.tw / nick.wang@narlabs.org.tw
開放預約方式
預約制 排單制 自行操作
Polytec White Light Inteferometer (Topography Measurement and In plane Vibration Analyzer)
Laser Doppler Vibrometer (Out-of-plane resonant frequency)
Shaker (for accelerometer)
Desktop Scanning Electron Microscope
Rate table (gyroscope)
Olympus microscopes (With multiple image alignment )
Introduction
在微機電量測系統中,包含許多不同種類的儀器及量測功能,簡介如下:- 白光干涉儀:主要利用白光干涉原理來量測物件表面3D輪廓或元件尺寸等。
- 平面振動分析儀:利用stroboscopic video microscopy的技術來量測物體動態位移特性,可量測物體平面振動之共振頻或位移等,但待測物必須要為週期性的運動。
- 雷射都卜勒:雷射都卜勒是一個快速、非接觸式的出平面振動量測系統。
- 加速度振動量測平台:可用來量測加速度感測器,包含加速度力驅動與感測訊號輸出之關係。
- 桌上型掃描式電子顯微鏡:利用電子束掃描物件表面‚以取得立體影像。
- 單軸定位與旋轉桌系統:旋轉桌系統是以電動無刷式的方式驅動旋轉載台,可以輸入sinusoidal訊號作來回旋轉或作單一方向來控制旋轉,可提供一角速度/角度的旋轉變化給予待測物,例如陀螺儀。
- 全聚焦圖像拼接顯微鏡:Olympus Microscopes MX63顯微鏡搭配影像專用圖像軟體,可擷取圖像作拼接,快速完成全景圖像不須後製對位拼接。
Service
1. 白光干涉儀:(1) 靜態撓度(Deflection)
(2) 結構曲率(橫截面)
* 目前系統尚未架設probe station,故無法外加電壓至量測元件,僅適用靜態量測
2. 平面振動分析儀:
(1) MEMS結構諧振行為(同平面頻率響應)
* 本機台無架設probe station,故無法以直接下針的方式外加電壓至量測元件。量測者可使用TSRI提供的壓電片驅動(建議sample size小於10 mmx10 mm)或經由打線封裝的方式提供電性驅動
3. 雷射都卜勒:
(1) 出平面頻率響應
(2) 出平面時間響應
(3) 出平面動態位移
(4) MEMS結構的出平面瞬態響應
4. 加速度振動量測平台:
(1) 加速度振動輸出訊號量測(示波器、頻譜)
* 為求量測穩定性,建議需在PCB上設計固定孔
5. 桌上型掃描式電子顯微鏡:
(1) 晶片或小型樣品圖形影像觀看
* 本中心另外搭配鍍金機,可增加非金屬材質解析,鍍金厚度約6 nm
* 本機台不適用液態,粉末形式樣品
6. 單軸定位與旋轉桌系統:
(1) 角速度旋轉輸出訊號量測(示波器)
* 為求量測穩定性,建議需在PCB上設計固定孔
7. 全聚焦圖像拼接顯微鏡:
(1) 影像擷取功能:可拍照,錄影及即時影像顯示
(2) 快速完成全景圖像,不須拍照後再另外後製對位拼接
* 圖像高低差太大或參考點太少的樣品,會影響圖像拼接效果
Equipment
- 白光干涉儀:
(1) 垂直可掃描距離:250 µm
(2) 鏡頭放大倍率:10X, 20X
- 平面振動分析儀:
(1) 工作距離≈ 33.5 mm、視野範圍≈ 800 µm x 600 µm
(2) 最大振動速度:0.1 m/s ~ 10 m/s
(3) 位移解析度:≦5 nm
(4) 縱軸單位:位移、速度、加速度、相位
(5) 橫軸單位:時間、頻率
(6) 同平面振動影像顯示,並提供AVI 動畫輸出
(7) 資料輸出:ASCII, AVI, graphic formats
(8) TSRI提供之壓電片振動頻率範圍<200 kHz,量測者亦可自備適合之壓電片(TSRI可提供最大電壓供應為100 Vpp, DC-1 MHz) (9)振動頻率範圍 : 1Hz~2.5MHz - 雷射都卜勒:
(1) 光源為He-Ne雷射光(波長632.8 nm)
(2) 量測距離:18 mm~110 mm
(3) 雷射光點大小:6 μm (50X物鏡下), 12 μm (20X物鏡下)
(4) 訊號線長度:3 m
(5) 量測頻率範圍:0.3 Hz~3 MHz
(6) 速度範圍:0.01 m/s ~ 1 m/s
(7) 位移範圍:100 nm ~100 mm
(8) 輸入電壓 ±1 V
- 加速度振動量測平台:
(1) 簡諧運動的頻率範圍:1 Hz ~ 3.9 kHz
(2) 加速度振動G值範圍:0.02 G ~ 10 G
(3) 4395A頻譜分析儀之操作頻率範圍10 Hz ~ 500 MHz
(4) 治具上的螺孔為3 mm,相鄰的螺孔中心距離為5 mm
(5) 頂面的螺孔陣列為12x12組,側面的螺孔陣列為12x9組
- 桌上型掃描式電子顯微鏡:
(1) 放大倍率:30X ~ 30000X
(2) 最大樣品尺寸:70 mm直徑
(3) 最大樣品厚度:50 mm
(4) 樣品觀看角度:0/15/30/45/60/75/90 度(載台表面角度)
(5) 真空抽氣時間<3 mins
- 單軸定位與旋轉桌系統:
(1) 旋轉桌為8吋
(2) 最大運轉速度為 3000 °/sec,最小運轉速度: 0.0002 °/sec
(3) 最大運轉加速度值(sinusoidal move): 90000 °/sec
(4) 最多可以同時連接36組輸出埠
(5) 治具上的螺孔為3 mm,相鄰的螺孔中心距離為5 mm,螺孔尺寸規格與加速度振動量測平台上的載具螺孔尺寸規格相同
- 全聚焦圖像拼接顯微鏡:
(1) 反射光可觀察明視野及暗視野
(2) 為5孔電動旋轉鼻輪,配置如下5個物鏡:
5X物鏡:NA 0.15 ; W.D. 12 mm
10X 物鏡:NA 0.3 ; W.D. 6.5 mm
20X 物鏡:NA 0.45 ; W.D. 3 mm
50X長工作距離物鏡:NA 0.5 ; W.D. 10.6 mm
100X 長工作距離物鏡:NA 0.8 ; W.D. 3.3 mm
(3) 載物台:XY移動範圍≧210*210 mm ; 載盤:8吋及6吋晶圓專用載盤果
(4) 具備圖像量測和拼接功能
Software
Supplementary Information
收費標準常見問題
注意事項
無故未到仍將依本中心計費標準收費【預約制】預約完成後請依各儀器預約時間至本中心,如須取消請於3天前在網頁上取消
【排單制】依約至本中心,如須改期等請提前與負責工程師聯絡
【自行操作】預約後請依時使用
儀器預約使用步驟說明
預約者進入TSRI首頁/量測服務/選取預約項目,登錄預約系統。- 【預約制】請依顯示可預約之畫面進行預約。
- 【排單制】送出申請單後,待確認量測需求後將透過系統進行排單日期通知。
- 請預約者按約定時間至本中心進行量測,避免資源浪費,無故未到者將依該時段最低收費時數進行收費。
- 預約者預約及量測完成後,透過系統將收到預約完成,審核與結案時數等E-mail通知,如期限內未提出異議,請在繳費期限內完成付費,若未收到信件者需與本中心進行確認。
- 實驗室內所有儀器、耗材使用後務必歸回原位,保持整潔,方便下位使用者使用。
- 所有儀器與耗材元件,於使用中若發生異狀( 損壞、遺失、特性或功能錯誤),需即時停用並告知實驗室管理人員處理。
- 實驗室電腦並無對外開放同學請勿自行操作,更無開放遠端連回訪客電腦,若有需求請通知工讀生或管理人員代為操作。
- 專人量測開放時間為上午 9:00~12:00與下午 13:00~17:00,中午休息時間實驗室將會關閉,請同學至中庭區休息。
- 實驗室內禁止吃東西及喝飲料。
- TSRI保留一切核准使用權利。