Introduction

可提供線性及非線性元件或電路特性與效能量測，包括S參數，X參數、RF IC項目及負載拉移項目。
【S參數項目】－提供二埠S參數頻域和時域量測，頻段為10MHz至67GHz。

【X參數項目】－提供量測50Ω條件下二埠非線性X參數量測，頻段為10M至22GHz元件或電路量測; 提供量測非50Ω二埠非線性X參數量測，頻段為800M至6GHz元件或電路量測。【註】在此非線性X參數量測頻率範圍以最高諧波為3階估算。

【RF IC項目】－提供二埠及三埠10MHz至20GHz電路之量測，包括放大器及混波器與壓控震盪器等，其選項有增益(Gain)、隔離度(Isolation)、雜訊指數(Noise Figure)、一階線性度(P1dB)、三階線性度(IIP3)、雜訊指數(Noise Figure)、震盪頻率(Oscillation Frequency)與相位雜訊(Phase Noise)等。

【負載拉移項目】－提供800MHz至65GHz需調整阻抗匹配之元件或電路量測，量測非50Ω條件下元件或電路之特性參數，如Power Cell及Power Amplifier之IV Curve、P1dB、最佳阻抗匹配(Source-Pull、Load-Pull)、Power Contour、Power Sweep、PAE、Pout(max)等參數。

【雜訊指數項目】－提供二埠及三埠1GHz至50GHz電路之量測，包括放大器及混波器雜訊指數(Noise Figure)量測等參數。

This system provides linear and non-linear characteristic measurement of coaxial or on-wafer components and circuits. The supported parameters include S-parameters (10MHz to 67GHz), X-parameter (10MHz to 22GHz), RFIC parameters (10MHz to 20GHz), and load-pull parameters (800MHz to 67GHz, the component or circuit measurement that needs to adjust the impedance matching).